显微镜测量粒度,粒度小到0.1微米仍可以进行测量

显微镜测量粒度,粒度小到0.1微米仍可以进行测量

  当预测的粒度小于光学显微镜的分辨能力极限时，可以采用电子显
微镜进行测量，粉末试样沉积在碳膜或塑料膜上，借扫描进行测量同样
也是可能的，粉末冶金使用的金属粉末的粒度很少如此之细，需要用电
子显微镜才能测量。

即使显微镜测量已经不再是测量粒度的常规的方法，

  但是对于校正其他方法，特别是基于沉降分析的方法来说，显微镜
测量仍有价值。

  以斯达克斯定律为基础的方法在许多可以用来测量粒度和粒度分布
的淘析的沉降法中，一般只有少数几个方法对于金属粉末是可以使用的，
在提出这些方法之前，为了得到可靠的结果，应当先说明某些必须说明
的条件：必须避免悬浮介质的对流；流体和粉末颗粒的相对运动速度必
须足够低，以便保证是层流，这意味着，由给出的雷诺数应当小于0.2
式中，是颗粒大小，是沉降速度，是流体密度，是液体的粘度，这就是

以用斯达克斯定律方法测量的粒度，限制在亚筛范围内，另一方面，
同流体的不均匀性进行比较，粉末颗粒大小限制在大小5 μm 范围内，
而在液体中进行沉降分析时，粒度小到0.1 μm 仍可以进行测量。

  悬浮液中的粉末颗粒必须是完全分散的，而且，悬浮液必须解释到
足以保证独立运动，这意味着，悬浮介质中粉末颗粒的体积最大浓度大
约为1%，最后，必须避免容积壁的影响，这意味着，淘析或沉降分析容
器的内径要足够大。

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