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偏光显微镜应用于粒度分布和矿物颗粒计量分析

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放大字体  缩小字体    发布日期:2019-03-12  来源:仪器信息网  作者:Mr liao  浏览次数:754

偏光显微镜应用于粒度分布和矿物颗粒计量分析

偏光显微镜有助于研究织构、粒度分布和矿物颗粒问的接触特性,这对于了解矿物原
料的呵选性以及矿物的性质、分布和成因都是很重要的。用图象分析法在薄片或光片中对
矿物进行定量测定的繁重劳动,已被自动分析仪大大减轻。自动分析仪是基于用直径0.0005
mm的圆点发射的光进行光度扫描的原理构制的。透明矿物的反差可用染色的办法增强。
折光率是鉴定矿物的一个重要特征,可用变温的方法极其容易地在热台上测定,要尽可能
用棱镜同步加热的折光仪。


此外,双变法是利用费氏台测定折光率随可见光谱波长改变而
发生的变化。高温显微镜(达1700℃)或至少热台(达1350℃)使我们有可能观察矿物和
岩石(如长石、致密硅岩、石英岩)加热时其光性的变化,观察其相变、烧结、熔融、重结
晶、在固相中的反应、变形、收缩和膨胀。电子显微镜可以测定聚集在复制品上被金属镀
层遮蔽的矿物的结构布置;如果应用扫描电子显微镜(放大30至150000倍),也可提供该集
合体表面结构或破裂面的三维成象;在萤光屏上还可以拍摄和研究微细质点(如粘土矿物)
的色散、形状和厚度(在金属镀层后的)。与劳厄衍射图上的X射线相比,电子衍射可以
表现矿物的内部结构,不同的是电子辐射的波长小得多(放大500至500000倍)。在离子显
微镜中,从荧光屏上有可能观察到由于离子轰击而自矿物表面射出的次级电子。

(本文由上海光学仪器厂编辑整理提供, 未经允许禁止复制http://www.sgaaa.com)

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