再结晶钨丝断口复型中夹杂物实验电子显微镜

再结晶钨丝断口复型中夹杂物实验电子显微镜

  近十年的研究，进一步认识了掺杂物对钨丝组织结构和性能的影
响，再结晶钨丝的电子显微照片显示了在掺杂钨丝中有成排或成串
的直径为5-30mm的夹杂物，而在没有掺杂钨丝中就没有这种夹杂物
，这些夹杂物实际上是气泡，再结晶钨丝断口复型中夹杂物的阴影
都投射在一个相同的方向上，钨丝中的针状孔隙的退火时会断裂成
串状的气泡，x射线能谱仪，二次离子质谱仪，电子能谱仪和最后

在透射电子显微镜上的选区衍射的分析研究均似乎表明，在金属钾
包含在这些气泡中，这些气泡阻碍了冷加工钨丝纤维结构的正常再
结晶，在不掺杂钨丝中在1100℃以上就可观察到这种再结晶，而在
掺杂钨丝中这些纤维结构可地直保持到2150℃。在此温度，钨丝断
面上的少数晶粒会发生突然长大，由于气泡串的存在，得到的结构
是由非下垂结构的细长晶粒所组成。

  含有1-2%氧化钍的掺杂钨无法阻碍再结晶钨丝的晶粒长大，加氧
化钍钨丝主要用于原子氢电焊条，等离子喷涂焊条，氙灯等方面，
在这些方面的应用热电子发射能力很重要，而掺杂钍钨丝同不掺杂
钨丝比较主要是提高了的材料热电子发射能力。
  钨丝在其他方面的应用有真空金属喷涂，特别是铝和金属对玻璃
的密封，在这些方面，钨的低膨胀系数是很重要的。

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