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力调制显微镜
原子力显微镜成像的扩充包括力调制显微镜(FMM)样品机械
属性的特征。与侧力显微镜、磁力显微镜一样，力调制显微镜允许
同时获得外形和原材料属性的数据。
在力调制显微镜模式中，原子力显微镜探针顶端与样品接
触扫描，并且Z轴反馈回路保持悬臂偏转为一常数(如原子力显微镜
中的定力模式)，另外，一个周期性的信号加在探针上或加在样品
上。悬臂调制振幅的结果取决于根据样品
根据样品表面的机械属性悬臂振动的振幅变化
当探针与样品接触时，表面会阻止振动和悬臂的弯曲，在
同样的作用力下，硬的区域比软的区域损坏样品表面小，也就是，
硬的表面对垂直振动产生很大的阻力，并随后造成悬臂弯曲。由悬
臂调制振幅的变化，此系统产生力调制成像，这是样品弹性属性的
图像。应用信号频率为几百千赫大小，其比z轴反馈回路追踪的信
号频率要快。外形信息能够从样品弹性特性的局部变动中分离出来
，并且两种类型的图像可同时获得。
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