直接测量层表面特征表面粗糙度或波纹度显微镜

直接测量层表面特征表面粗糙度或波纹度显微镜

预浸溃层的表面特征
  在建立层间紧密接触模型时，一个重要参数是由预浸料宽度方
向上丝束高度的变化导致的表面粗糙度或波纹度。因此，预浸料表
面粗糙度的表征非常重要。影响预浸料表面粗糙度的参数包括纤维
类型、丝束尺寸、基体树脂和预浸料的生产方法。紧密接触测量
  测量复合材料凝固过程总体质量最常用的两项技术是光学显微
技术和透射c一扫描技术。这两项技术都很适合于用来测量层界面
间的紧密接触程度。
  光学显微照片。由于通过该技术可以直接测量层界面，所以这
种方法的准确程度很高。但是，复合层压材料必须切成小试样，而
且每个小试样都必须封装并仔细抛光。此外9高倍放大时，每张显
微照片只涵盖了几微米长的层间界面。因此，该过程十分耗时，所
以其所测量的试样的实际数量有限。为了减少测试紧密接触程度时
的工作量，可以把显微照片数字化，并用图像分析软件来测量层界
面间的空隙含量(不完全接触区域)。
  超声C一扫描技术是确定复合材料微结构缺陷最常用的无损方
法。透射C一扫描技术很容易实现，而且可以在数分钟内对大面积
的复合材料进行扫描。但该技术不能揭示缺陷的类型。因此，通过
C一扫描无法确定缺陷是由层界面间的不完全接触造成的，还是复
合材料微结构中其他类型的缺陷。
  测量多层复合层压材料紧密接触最有效的方法是，首先使用C
一扫描或其他无损方法来确定板条中缺陷的位置。然后含有缺陷的
板条的截面用光学显微镜来检查，再测量层间界面得到完全接触
程度。

相分离行为
  PEI与热固性单体或部分已固化的热固性树脂的混溶性可通过
浊点测量进行分析。浊点由光学显微镜的透射光强度变化的起点确
定。为了在冷却过程中保持热平衡，浊点测量时采用0．2℃／min
的慢冷却速率。SEM用来研究给定PEI含量共混物的相分离机理。将
样品在不同时间间隔下从150℃的固化箱中取出，立即淬冷，放于
液氮中淬断。电子显微镜照片可显示在固化过程中的颗粒的发展。
相形态
  用SEM观察不同固化温度和组成的固化样品的最终形态。在SEM
测量前，将在液氮中脆断的后固化样品的断裂面用氯甲烷刻蚀。

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