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NanoMOKE3是新一代超高灵敏度磁强计和克尔显微镜，灵敏度高达10-12emu，是研究磁性薄膜以及磁性微结构最理想的测量工具，在自旋/磁电子学、磁性纳米技术、磁性随机存储器、GMR/TMR、记录磁头、磁传感器等研究领域有着广泛的应用。磁光克尔测试属于光学测试，对样品的振动有着一定的要求。传统的低温磁光克尔测试通常使用低振动的液氦恒温器来进行，这种恒温器往往不能兼容纵向和极向磁光克尔测试，且使用者需要多次采购和传输使用液氦，实验过程比较繁琐，也给实验室增加了大量液氦成本。
2018年6月，Quantum
Design在美国加利福尼亚大学圣迭戈分校Ivan
Schuller教授实验室成功安装了一套集成NanoMOKE3与5nm级别超低振动的Montana无液氦低温恒温器的磁光克尔测试系统，实现了4.5K~325K下的纵向0.47T/极向0.35T的磁光克尔测试，为低温下的磁光克尔测试带来了新的方向。
图1
：磁光克尔测试系统NanoMOKE3+Montana无液氦低温恒温器
设备集成外观
Schuller教授团队的研究方向之一是制备和研究新型微纳米结构，如量子点、磁性异质结构、二维铁磁线和一维铁磁链等。“最新的低温磁光克尔测试系统可灵活安装配置样品，允许我们进行原位磁光和磁输运测试”，Nicolas
Vargas研究员说：“我们小组目前正在研究混合异质结构（V-Oxide/FM）在结构相变（SPT）-温度依赖性期间的磁性和反射率行为，这套系统的安装，将对我们的实验提供非常大的帮助。”
设备安装成功后，工程师首先对垂直磁各项异性薄膜Ta(4
nm)/Pt(10 nm)/CoFeB(0.6 nm)/Pt(2
nm)进行了4.5K下的极向克尔测试（如图2所示），结果显示该样品在单次循环无平均下的噪声仅为5%。随后又对该薄膜进行了4.5K下的克尔成像测试（如图3所示），左上角显示为饱和磁化时的成像，顺时针方向为磁场逐渐减小至反向饱和时的成像，可以明显的观察到磁畴的变化。
图2：CoFeB薄膜4.5K下极向克尔测试
左：60秒平均测试结果 右：单次循环1秒（总测试时间）无平均测试结果
图3：CoFeB 薄膜4.5K下的磁畴成像观测
除了极向克尔测试，工程师还对坡莫合金微带线（25-um
宽, 24-nm
厚）进行了5.5K下的纵向磁光克尔测试（如图4所示），结果显示该样品单次循环即可得到极强的克尔测试信号，噪声仅为3%。
图4：坡莫合金微带线5.5K下的纵向磁光克尔测试
左：微带线结构 中：60秒测试平均结果 右：单次循环1秒无平均结果
这套系统除了集成为低温磁光克尔测试系统外，也可以分成室温磁光克尔和低温恒温器等两套系统单独使用。已经购买了Montana C2恒温器或者NanoMOKE3磁光克尔系统的用户，也可以在此基础上升级为无液氦低温磁光克尔测试系统！
