几何结构微米级粗糙度的测量立体显微镜立体成像

立体显微镜法

  立体显微镜法(stereos—copy)指利用立体成像以得到
高度方面的信息。可使用光学或电子显微镜成像。因此分辨率范围
很宽，从也许几十个纳米直到几个厘米。该技术需要有重要的计算
手段，但这些现在极易获得。现代分析运算已明显改进了这项技术
的速度和精确度

  气流技术粗糙度测定法

  有好几种仪器可利用气流技术测量平均表面粗糙度。这类仪器
的例子包括ParkerPrint—Surf、Bekk、Bendtsen和Sheffield。新
型装置使用同样的测量几何结构，很容易利用现代电子学仪器实现
测量。这类装置一般测量纸面与压向纸面的金属板侧边之间的气流
量。各装置之间甚至同一装置的各方法之间的几何结构、所用压力
和背面材料都是不同的。虽然这类装置有不少加以校准可提供RMS
微米级粗糙度的测量，但它们测量的规格特性取决于装置的几何结
构。这类装置还存在着受涂层本身透气度(因涂层内部以及涂层与
测量头之间空气流动)影响的可能性。这类测量装置的优点是它们
的操作速度很快，使它们极适合于在生产环境中使用。
  摩擦因数
  表面分布状况和化学性质可影响纸面的摩擦因数。分布状况可
影响微观与宏观摩擦力

(本文由上海光学仪器厂编辑整理提供, 未经允许禁止复制http://www.sgaaa.com)