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显微镜观测分析铁谱片上的特征微粒

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放大字体  缩小字体    发布日期:2019-03-12  来源:仪器信息网  作者:Mr liao  浏览次数:308

(1)取下显微镜罩子,打开铁谱三目双光显微镜的电源开关。

(2)调节显微镜:将透射光(在显微镜底部)调到最大,将反射光调
节手柄(在电源变压器上)调到5 V。

(3)用脱脂棉擦拭干净载玻片,将铁谱片放在载玻片上。

(4)将10X物镜对准铁谱片u形槽入口。

(5)通过目镜观察,调节视场,从左向右逐次寻找特征微粒(清晰度
调节手柄在显微镜立柱上,左右前后位置调节手柄在载物台的下方)。

(6)根据观测的需要,可以将物镜替换为20X,40×,特殊情况下使
用100×。

(7)用相机将有保存价值的视场拍摄下来,作为资料保管或检测报
告的附件。将相机固定在显微镜相机接口上,打开显微镜上方摄像目的
镜盖,将显微镜相机接口固定在显微镜上方摄像目孔处,打开相机电源
,调节铁谱片在视场中的位置即可在相机上观察到铁谱片上的微粒,需
要保留时直接按动快门即可。

(8)显微镜的左目是观察目,主要用于观察,右目是测量目,上有
刻度,可以计算微粒大小的尺寸,尺寸读取方法是:微粒某方向尺寸(
岬)=(单位值/每小格)×在此方向上的小格数。由于目镜上还有10倍放
大,故观察到的微粒是实际微粒的物镜放大倍数X目镜放大倍数,放入
计算机后更是可以任意放大或缩小。

(本文由上海光学仪器厂编辑整理提供, 未经允许禁止复制http://www.sgaaa.com)

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