样品表面涂层厚度截面分析便携式金相显微镜

样品表面涂层厚度截面分析便携式金相显微镜

  用扫描电子显微镜检测电绝缘材料时，样品表面在电子轰击后
会形成电绝缘状态，导致电荷在材料表面积累使样品不易成像和分
析．为了解决这个问题，通常需要对样品进行特殊的涂层处理

  当使用TEM时，样品必须非常薄(0．1～10μm)，使得易吸收的
电子能够穿透固体形成图像。制备如此超薄的且无人工痕迹的样品
对于该技术的应用是一个非常关键的步骤，

。
  使用的商品化仪器的样品制备方法。同时还讨论在每个制备步
骤可能产生的人工痕迹以及解决的办法。除了广泛应用的样品制备
技术，但不会很全面。必须强调的是，尽管这是一个成熟的领域，
但仍有新技术不断推陈出新，对此不可能一一解释和列举。因此，
有一些遗漏在所难免。