焊缝金属微观失效分析技术

失效分析方法的选择

有许多可用的分析方法可用于失效分析研究。这些方法包括块
状试样分析方法，以及可以在很高的放大倍数下提供表面形貌、冶
金或化学信息的方法。

块状试样的x射线衍射(XRD)，可提供材料中包括的相和析出物
的相关信息。这种方法不局限于分析金属，也能用于评价那些本质
上具有晶体结构的材料。x射线衍射斑点是由一种晶格的特征波长
经x射线衍射后产生。

扫描电子显微镜功能强大，常用于失效分析，因为扫描电镜可
以提供断口表面形貌和化学成分的信息。同时，试样制备也很简单
。然而，对于受污染的试样来说，需要采用专门的清理方法，以防
止电子柬打到试样时产生“放电”。

相对于扫描电镜来说，电子探针分析仪在微观尺度上可提供更
为精确的成分分析。电子探针分析仪分析方法对评价焊缝金属中的
偏析类型，或确定特定位置的化学成分时很有用。其分辨率可以达
到1—2μm数量级。电子探针分析的试样通常要在电解质溶液中进
行电解抛光，并且要制成金相试样。因为成分信号最易从平整的表
面上获取。

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