断口分析光学显微镜

断口分析光学显微镜-分析电子显微工具

  断口金相学
  断口金相学是一个重要的工具，可以让人们深入了解材料的性
能和失效机制。早在青铜器时代，工匠和武器制造者就已开始观察
断口表面。17世纪，断口分析首次使用了光学显微镜，并复制了断
口表面。18世纪有了第一张断口照片。到20世纪50年代，开始使用
透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(SEM)来分析断口表面，有
了现代电子断口金相照片。
  用于断口分析的扫描电子显微镜(SEM)的研制成功与应用，标
志着现代断口金相学的开始。下面将描述扫描电子显微镜的基本组
件以及扫描电子显微镜操作控制的物理原理。对分析电子显微工具
的更详细描述，读者可以参阅有关此主题的其他专业书籍。在现代
断口金相学中，已知有4种主要的断口模式：韧窝断裂，解理断裂
、疲劳断裂，以及分离断裂。无论断裂模式如何，断裂都是以穿晶
和沿晶的方式扩展。
  在这里将讨论热裂纹、固态裂纹，以及冷裂纹的典型断口表面
形貌。下面将给出凝固裂纹、液化裂纹、失塑裂纹、应变时效裂纹
、再热裂纹，以及氢致裂纹的典型断口形貌。

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