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光学显微镜上对牙釉质不同部位观察龋损

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放大字体  缩小字体    发布日期:2019-03-12  来源:仪器信息网  作者:Mr liao  浏览次数:758

光学显微镜上对牙釉质不同部位观察龋损

  在光学显微镜水平上对牙釉质不同部位破坏程度差异的解释
是与假设釉柱、柱鞘及柱间牙釉质的组成不同有关的。然而,现
在一般都同意釉柱之间和釉柱内部的基本结构是相同的,唯一可
见到的差异是晶体方向的不同。曾假定率先受溶解的组织位于晶
体呈现两端相接的部位。釉柱不同部位晶体方向的差异,可用以
解释龋损的侧方与前端在显微放射照相上的不同表现。然而,用
透射电镜对釉质小龋损进行的详细研究未能提供支持上述假设的
证据。
  曾试图将电镜下见到的龋坏牙釉质的特征与偏光显微镜所确
定的病损破坏程度相联系。方法是在牙齿磨片上测量龋损各个部
位的空隙容积,这个磨片的部位邻近于用透射电镜检查的磨片部
位。对横断釉柱方向的标本检查的结果表明:除非标本采自具有
约25%空隙容积的部位,否则不能查到明显的晶体间微隙及晶体
本身的损伤。这样,用透射电镜可以认出改变的最早部位是病损
体部,而第一层及第二层则看不到改变。

(本文由上海光学仪器厂编辑整理提供, 未经允许禁止复制http://www.sgaaa.com)

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