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用于检查硅片的表面光洁度-日本horiba高光泽度检查仪IG-410
总览
高光泽度光泽度检查仪IG-410是一种方便使用的类型，可方便地进行现场工作，并且只需将与显示单元分开的测量单元应用于被摄体即可进行测量。使用近红外线作为光源，并测量了1000的光泽度（镜面反射率100％）。
无需预热。对于需要高表面光泽度的产品（例如用于汽车前灯的照明反光器，用于复印机的反光器和硅片）的质量控制而言，它是理想的选择。特征甚至在金属等高光泽区域
也可以量化 模糊度 IG-410可以测量金属等高光泽区域，是光泽度检查仪IG系列的新产品。测量范围是0到100，是传统型号的10倍。也可以测量镜面样品。紧凑轻巧的设计，易于现场测量
重量仅为350g，易于携带。由于是一键式操作，因此可以将其带到生产现场以方便测量。
由于将LED用作光源，因此无需担心光源的寿命。可以通过
在2个范围之间切换来测量低光泽度，可以在0到100和0到100的2个范围之间切换。每个范围都带有自己的校准板。
IG-410不仅可以测量高光泽度金属，还可以测量低光泽度区域，例如涂在金属板上的样品。应用实例用于检查金属产品表面状况的光洁度用于检查轧制铝板和不锈钢板的外观用于检查电镀产品的外观用于检查硅片的表面光洁度
*由于光泽度是通过光的反射来测量的，因此测量点必须平坦。规范
光学系统
入射角60 -接收角60
测量面积
3 x 6毫米椭圆
光源
LED（波长890nm）
受光部
SPD（硅光电二极管）
测量范围
（显示分辨率）
100范围：
0.00至10.0（显示分辨率0.1）1000范围：0至100（显示分辨率1）
重复性
满量程的 1％
电源供应
AA干电池x 4
电池寿命
200小时以上（使用碱性干电池）
工作温度极限
10-40℃
尺寸
机身：75W x 34D x 140H mm
传感器：30W x 45D x 88H mm
大众
约350g（带内置电池）
其他功能
自动校准，自动关机
范围切换显示（100/1000）超范围
显示，电池电量显示
测量值保持
校准值设置
配件
用于100和1000量程的校准标准板
