原子力显微镜可测(良导体、半导体、非导体)

原子力显微镜可以量测「任何固体」(良导体、半导体、非导体)表面

使用硅晶圆或奈米碳管(CNT)製作成针尖小于100nm(奈米)的奈米尖端，当奈米尖端由「任何固体」表面扫过时，尖端接触「任何固体」表面都会产生作用力(称为「凡得瓦力」)，利用作用力的大小来控尖端随物体表面高低起伏而上下移动，如图4-56(a)所示，可以量测「任何固体」(良导体、半导体、非导体)表面。将尖端上下移动情形记录下来，并且利用电脑模拟物体表面三维高低起伏而绘出相对应的三维图形，如图4-56(b)与(c)所示。原子力显微镜(AFM)的解析度与奈米尖端的尺寸有关，可以用来观察大约1nm(奈米)的结构,工具显微镜，因此可以看到由电脑模拟的原子影像。

共焦的激光扫描显微镜(CLSM)是在生物科学找到宽应用的相对地新的轻的微小成像技术。 CLSM的标本即主要值对生物学家的是其能力通过三维，一个整个电池或者组织部分导致光学部分-那，对一个好近似值，只包含从一个焦平面的信息。 条款包括共焦的激光扫描显微镜的原则和应用。

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