较轻直接影响薄膜测厚仪的准确度原因

1、基体金属磁性质

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对涂层测厚仪进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。

2、基体金属电性质 

基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

3、基体金属厚度

每一种涂层测厚仪有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

4、边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

5、曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

6、试件的变形

测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。