薄膜直径的量度主要有哪些？

涂层和覆层测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段
  涂层厚度的测量方法主要有：楔切法涂层测量，光截法涂层测量，电解法涂层测量，厚度差测量法，称重法涂层测量， 射线荧光法涂层测量， 射线反向散射法涂层测量，电容法涂层测量，磁性测量法和涡流测量法测量厚度等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。随着科学技术的日益进步，特别是近年来，涂层测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一大步。测量的分辨率已达1微米，精度可达1%，有了大幅度的提高。涂层测厚仪适用范围广、量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的涂层测厚仪。
  涂层测厚仪有时开机出现干扰是什么原因?
  开机后仪器屏幕出现测量状态箭头不能再次进行测量，就说明仪器受到了干扰。主要有两个原因:
  (1)开机时探头离铁基太近，因为铁基磁场的影响而受到了干扰。
  (2)没插好探头或者探头线有损伤。