C84安Ⅲ亮度测定仪采用新方法

物体反射的辐射能量占总辐射能量的百分比，称为反射率。不同物体的反射率也不同，这主要取决于物体本身的性质(表面状况），以及入射电磁波的波长和入射角度，反射率的大小范围总是小于等于1，利用反射率可以判断物体的性质。

C84-Ⅲ反射率测定仪使用方法：

1、把探头与电控箱连接，同时接上电源，开机预热10-15分钟。此时应把探头放在黑色标准板上为佳。

2、校零：把探头放在黑色标准板上，调整主机上的校零旋钮，使主机数字显示为000.0，允许变动 0.1.

3、校正标准值：把探头放在白色标准板上，调整主机的校标旋钮，使主机显示的数值与白色标准板的标定*。允许变动 0.1反复调整一次（校零、校标）。

4、测量RB值：把探头移至放有试样的黑色工作陶瓷板上，显示器所显示的数值即为RB值。

5、测量RW值：把探头移至放有试样的白色工作陶瓷板上，显示器所显示的数值即为RW值。

6、计算求得对比率 对比率（遮盖率）= RB/RW 100%

C84-Ⅲ反射率测定仪使用方法为涂料、颜料、油墨等化工行业贯彻执行国际标准、国家标准而研制的仪器。它可用于漆膜遮盖力的测定。

工作原理：

本仪器由探头、主体、标准板（黑白各一块）、工作陶瓷板(黑白各两块)等组成。 探头采用0 照射，漫反射接收的原理。当试样的反射光作用于硅光电池表面产生电讯号输入到直流放大器进行放大，并予以读数显示.