MB2S安DE保护膜等离子

MB2S-EN保护膜探头|京海兴乐科技（北京）有限公司提供

同时提供超声波探伤仪仪器USMgo+、USM36/USM36DAC/USM36DGS、USN60、相控阵探伤仪Phasor xs、涡流探伤仪Mentor EM、超声波点焊检测系统USLT USB、便携式相控阵超声探伤仪Mentor UT、超声波测厚仪DM5E、精密测厚仪CL5、便携式硬度计MIC10

应用

用于检测简单形状的工件中平行于表面的缺陷

锻件、铸件

金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、机器零件、壳体

特点

纵波单晶探头

适合DGS缺陷评判

性能参数误差小，适合高精度检测

可更换保护膜，保护探头不被磨损

柔性保护膜，即使是在粗糙或轻微弯曲的表面上也能很好地耦合

合金压铸壳体，坚固耐用

用于高温检测时可加装高温延迟块（定制产品）

系列

型号

频率(MHZ)

接口方向

带宽

晶片直径

接口类型

保护膜

MBS

MB1S

1

侧装

25

10mm

Lemo 00

ES24

MB2S

2

MB2S-EN

2

MB4S

4

MB4S-EN

4

MB5S

5

MB6S

6

MB2S-O

2

顶装

MB4S-O

4

MB5S-O

5

系列

型号

频率

(MHZ)

接口方向

带宽

晶片直径

接口类型

保护膜

BS

B1S-EN

1

侧装

25

24mm

Lemo 01

ES45

B1S

1

B2S

2

B2.25SE

2.25

B4S

4

B5S

5

B1S-O

1

顶装

B2S-O

2

B4S-O

4

B5S-O

5