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半导体芯片高低温次测试chiller指引

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放大字体  缩小字体    发布日期:2021-04-10  来源:仪器网  作者:Mr liao  浏览次数:44
核心提示:元器件高低温测试chiller的次要控制参数为制冷功能系数,额外制冷量,输出功率以及制冷剂类型等。选用元器件高低温测试chiller时,要考虑它的功能系数值较高的机组。  在选用元器件高低温测试chiller时应优先考虑效率曲线

元器件高低温测试chiller的次要控制参数为制冷功能系数,额外制冷量,输出功率以及制冷剂类型等。选用元器件高低温测试chiller时,要考虑它的功能系数值较高的机组。

 

在选用元器件高低温测试chiller时应优先考虑效率曲线比拟平整的机型。同时,在设计选用时应思考元器件高低温测试chiller负荷的调理范围。

其次,我们在选用元器件高低温测试chiller时,应留意名义工况的条件。元器件高低温测试chiller的实践产冷量与冷水出水温度和流量,冷却水的进水温度、流量以及污垢系数等因素有关。此外,选用元器件高低温测试chiller时,应留意该型号机组的正常任务范围,次要是主电机的电流限值是名义工况下的轴功率的电流值。元器件高低温测试chiller的选用应依据冷负荷及用处来考虑。

以上就是关于如何选购合适的元器件高低温测试chiller问题的相关讲解,通常我们都是根据依据实践状况、其名义工况的条件、冷负荷及用处等来选用合适的元器件高低温测试chiller,大家如果还有什么不明白的地方,可以直接咨询冠亚制冷冷机设备!(本文来源网络,如有侵权,请联系删除。)

 
 
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