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PHL应力双折射仪器
PHL PA-micro显微型应力双折射仪
PHL应力双折射仪器简介：
应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。
日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。
PHL应力双折射仪在显微镜下快速测量PA-Micro：
型号
PA-Micro
测量范围
0-130nm
重复性
1.0nm
像素数
1120x868
测量波长
520nm
尺寸
250x487x690mm
观测到的最大面积
5倍物镜：1.1x0.8mm;10倍物镜：0.5x0.4mm；20倍物镜：270x200um;50倍物镜：110x80um;100倍物镜：55x40um.
自身重量
11kg
数据接口
千兆以太网（摄像机信号）
电压电流
AC100-240V（50/60Hz）
软件
PA-View（for Micro）
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注：对于医疗器械类产品，请先查证核实企业经营资质和医疗器械产品注册证情况
