FPIXRF安sdd安矽偏转探测vs紫外线探测安孚光精仪（中华人民共和国）控股

这款硅漂移探测器（SDD,Silicon Drift Detector）专业为XRF光谱仪和SEM扫描电镜EDS能谱仪探测器应用而设计，提供窗口材料的选择，从铍（8μm）到薄型聚合物（用于轻型X射线透射），并提供10mm 至60mm 的传感器有源区域。 此外，所有或我们的SEM SDD版本都是无振动的。 详情介绍

这款硅漂移探测器(SDD,Silicon Drift Detector)专业为XRF光谱仪和SEM扫描电镜EDS能谱仪探测器应用而设计，提供窗口材料的选择，从铍（8 m）到薄型聚合物（用于轻型X射线透射），并提供10mm 至60mm 的传感器有源区域。 此外，所有或我们的SEM SDD版本都是无振动的。
硅漂移探测器在与创新的基于以太网的数字脉冲处理器相结合时得到优化。 具体配置给每个客户，SDD硅漂移探测器在广泛的输入计数率下提供卓越和稳定的性能，以产生快速X射线图。
硅漂移探测器规格SDD探测器典型特征传感器区域窗口选项分辨率eV（Mn K / C）10mm2光元件（AP3.3）或8 mBe 123-13330mm2光元件（AP3.3）或8 mBe 126-13360mm2光元件（AP3.3）或8 mBe 126-133100mm2光元件（AP3.3）或8 mBe 128-133

 

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