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这款LED光电测量系统是一款进口的满足LED电光参数测量和性能测量的LED光谱分析系统，用于LED发光测量和OLED发光测量,可以测量LED, OLED激光等任何发光光源的光电参数和特性,可快速而准确地测量各种发光光源辐射，光度学，色度以及效率参数。
为了测量各种光源，我们为LED光电测量系统提供各种类型的灯具，光采样选项和电探针附件。这种齐全的附件配备，使得这套LED光谱分析系统能够适合世界上任何商业标准封装或作为实验样品的各种发光器件的测量。
OLED测量系统使用积分球可以更为有效地收集光辐射，而不受光发射角的分布影响。其它光采样附件也可配置，以满足标准测量的要求。
这套OLED测量系统能够适应外部光源测量的需要，融入好的输出功率等级和精度的测量工具，也可根据用户的要求提供定制系统，更可以根据用户已有的仪器提供定制服务。
测量指标：
发射光谱 Emission Spectrum
辐射通量 Radiant Flux (W)
辐照度 Irradiance (W/cm2)
亮度 Luminance (Cd/m2)
色度坐标Chromaticity Coordinates（x,y)
色纯度 Color Purity
主波长 Dominant Wavelength
峰值波长 Peak Wavelength
发光效率Luminous Efficiency (Cd/A)
外部量子效率 External Quantum Efficiency
软件
这能够把所有重要参数测量结果展现到一个屏上，这个独具特色能够帮助用户更好地全面监测发光。
OLED测量系统控制采集点血和光谱数据，精确控制测量样品的供电, (具有外部源仪表接口，用户能以所需电压或电流范围扫描测试）
LED光谱分析系统集合所有电学和光谱参数，用户还能获得 外部量子效率 和 发光效率 之类的重要指标；
* LED光谱分析系统实时测量发光器件
组成：光谱仪，光纤，积分球，样品台，仪表，数据接口，软件
OLED测量系统技术指标
OLED测量系统光谱范围：200-850nm或 350-1000nm
LED光谱分析系统探测器：2048像素Si CCD阵列
LED光谱分析系统采光周期： 1毫秒--65秒
OLED测量系统光谱分辨率：1.5nm(FHWM)
OLED测量系统电压源 测量范围： 5 V - 200V
LED光谱分析系统电流源测量范围： 10pA - 1A
电源要求：110/230VAC,
系统尺寸：320x360x180mm
系统重量：9.8kg
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