Pfeiffer 残气质谱仪 RGA 应用于角分辨光电子能谱仪 XPS

上海伯东德国 Pfeiffer 残气质谱仪 RGA 应用于角分辨光电子能谱仪 XPS
光电子能谱仪（photoelectron spectrograph）利用光电效应测出光电子的动能及其数量的关系，由此来判断样品表面各种元素含量，并可分析固、液、气样品中除氢以外的一切元素。
角分辨 XPS 应用于各种固体材料表面（界面）的元素及化学态的定性、半定量、结构分析及化学

键研究。
使用上海伯东德国Pfeiffer残气分析质谱 QMG，对XPS系统的分析室残余气体进行定性和半定量分析，并针对残余气体进行除气措施，从而达到清洁样品表面，减少空气分子与标的电子的碰撞，最终得到金属材料表面的元素及结构分析信息。
上海伯东客户案例：上海某大学
角分辨光电子能谱仪+Pfeiffer残余气体分析质谱应用试验条件：
金属样品厚度：2nm
主真空室：1 10-10 Torr
分辨率：0.8cV
电子枪束斑：75nm
灵敏度：80KCPS
信噪比：大于70:1
角分辨：5 ～90
灵敏度：255 KCPS A1/Mg双阳极靶
能量分辨率：0.3% 位置灵敏检测器（PSD） 
角分辨光电子能谱仪配套上海伯东德国 Pfeiffer QMG 质谱分析仪配置:
1.测量范围:1-300amu
2.检测方式:Faraday/C-SEM
3.加热温度:1-200℃
4.离子源:开放式离子源

Pfeiffer 残余气体质谱分析仪与友厂同级别质谱分析仪相比，更适用于移动应用，并且提供高解析度和灵敏度，可对气体进行定性和定量分析，应用范围广泛，从大气压力到高真空均可使用。

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201206
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