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膜厚量測系統

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放大字体  缩小字体    发布日期:2019-03-06  来源:仪器信息网  作者:Mr liao  浏览次数:510
解決方案1. 雙光譜儀系統:寬廣全光譜(紫外至近紅外光)解決方案

客戶可選擇兩台光譜儀,量測波段分別為180-1100 nm和950-1700 nm,再搭配OtO客制化之雙光譜儀系統,即可輕鬆擁有180-1700 nm的波段範圍和高光學分辨率,突破單一光譜儀量測的限制,適合需紫外至近紅外波段範圍的量測應用,如:橢偏儀。


解決方案2. 消雜散光演算法

OtO開發的「消雜散光演算法」,適用於低穿透率、低反射率、高吸收度、量測光源偏弱、曝光時間極短的量測情境,經演算法校正後雜散光可降至0.01%。

消雜散光演算法對穿透率量測的貢獻

地址:30072 新竹市關新路27號9樓之5

2017 光谱仪、光纤光谱仪、拉曼光谱仪、红外光谱仪、微型光谱仪生产领导者 - 台湾超微光学 OtO Photonics Inc.

 
 
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