介绍荧光光谱仪测量的基本原理

公司动态当前位置：首页 > 公司动态 > 介绍荧光光谱仪测量的基本原理 介绍荧光光谱仪测量的基本原理 点击次数：82 发布时间：2018-11-13   介绍荧光光谱仪测量的基本原理 荧光光谱仪是一种快速、无损、多元素同时测定的分析技术，已广泛应用于材料、冶金、地质、生物医学、环境监测、天体物理、文物考古、刑事侦察、工业生产等诸多领域，可为相关生产企业提供一种可行的、低成本的、及时的检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径。本文就荧光光谱仪的工作原理及其应用做简单阐述。 荧光光谱仪的基本原理： 当一束高能粒子与原子相互作用时，如果其能量大于或等于原子某一轨道电子的结合能，将该轨道电子逐出，对应的形成一个空穴，使原子处于激发状态。此后在很短时间内，由于激发态不稳定，外层电子向空穴跃迁使原子恢复到平衡态，以降低原子能级。当较外层的电子跃迁（符合量子力学理论）至内层空穴所释放的能量以辐射的形式放出，便产生了荧光。荧光的能量与入射的能量无关，它只等于原子两能级之间的能量差。由于能量差完全由该元素原子的壳层电子能级决定，故称之为该元素的特征射线，也称荧光x射线或x荧光。 荧光光谱法就是由x射线光管发生的一次x射线激发样品，试样可以被激发出各种波长的特征x射线荧光，需要把混合的x射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的x射线的强度，以进行定性和定量分析的方法。该方法是一种非破坏性的仪器 荧光光谱仪分析方法，常用的有能量色散型和波长色散型两种类型。广泛应用于钢铁、铁矿石、炉渣、石灰石、萤石、耐火材料、地质等行业的多种元素的测定。 上一个：荧光光谱仪测量结果精确  下一个：奥林巴斯ANI全球销售总监到访巴斯德苏州总部