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ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ是在原ＵＳＰＭ－ＲＵ仪器上开发出的换代产品，是镜片反射率测定仪的新机型。薄镜片也不受背面反射光的影响，能实现高速、高精度的分光测定。
●特征
消除背面反射光
采用特殊光学系，消除背面反射光。不必进行背面的防反射处理，可正确测定表面的反射率。
可测定微小领域的反射率
用对物镜对焦于被测面的微小区域(φ60μm)，可测定镜片曲面及镀膜层脱落。
测定时间短
使用Flat Field Grating(平面光栅)和线传感器的高速分光测定，可迅速实现再现性很高的测定。
ＸＹ色度图、L*a*b*测定可能
以分光测定法为基准，从分光反射率情况可测定物体颜色。
Hard Coat(高强度镀膜)膜厚测定可能
用干涉光分光法，可以不接触、不破坏地测定被测物的膜厚（单层膜）。
●主要用途
各种透镜（眼镜透镜、光读取头镜片等）
反射镜、棱镜以及其他镀膜部品等的分光反射率、膜厚测定（单层膜）
●与原产品的主要区别
采用全新的ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ专用框架及设计，提高了操作性能。
受台Ｚ方向的移动范围从35mm(原产品)扩大到了85mm。
电源规格可对应AC100V以及AC220V。
(请您在下订单时注明电源规格。)
优化了软件的功能。（可显示10次测定的功能等）
XY受台移动方向增加了比例尺。
更换卤灯时不需调整灯的位置。
ＰＣ与Interface采用了ＵＳＢ式连接。
本装置不保证为Traceability体系中的精度。
如规格及外观发生变更恕不另行通知，敬请谅解。
光学系光路图
背面反射光消除的原理
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