USPM

最新推出的球面反射率测试仪利用的显微技术，薄镜片也不受背面反射光的影响，能实现高速、高精度的分光测定。   可以检测各种透镜（眼镜透镜、光读取头镜片等）、反射镜、棱镜以及其他镀膜部品等的分光反射率、膜厚测定（单层膜），性能和Olympus奥林巴斯镜片反射率测定仪USPM-RUⅢ一样    

 

Sphere3000是一套全波长显微球面光学元件光谱分析仪，能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/绝对反射率。适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量。还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。

 

Sphere3000球面光学元件反射率显微测试仪-特点：

  显微测定微小领域的反射率  物镜对焦于被测物微小区域（φ60μm）

  CIE颜色测定  X Y色度图，x, y, L, a, b, 饱和度，主波长等

  检测速度快  高性能探测器，能在几秒内实现重现性高的测定

  消除背面反射光 无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率

 

Sphere3000球面光学元件反射率显微测试仪-技术参数

型号 Sphere-3000（I型） Sphere-3000（II型） Sphere-3000（III型） 检测范围 380~800nm 380~1000nm 380~1100nm 波长分辨率 1nm 1nm 1nm 相对检测误差 ﹤1% ﹤1% ﹤0.5% 测定方法 与标准物比较测定 被测物再现性 ±0.1%以下
(2σ)（380nm~410nm） 
±0.05%以下
(2σ)(410nm~800nm) ±0.1%以下
(2σ)（380nm~410nm）
±0.05%以下
(2σ)(410nm~1000nm) ±0.1%以下
(2σ)（380nm~410nm）
±0.05%以下
(2σ)(410nm~1100nm) 单次测量时间 ﹤1s 精度 0.3nm 被测物N.A. 0.12(使用10×对物镜时)
0.24(使用20×对物镜时)
  被测物尺寸 直径 1mm
厚度 1mm(使用10×对物镜时)
厚度 0.5mm(使用20×对物镜时) 被测物
测定范围 约φ60μm(使用10×对物镜时) 约φ30μm(使用20×对物镜时) 设备重量 约15kg（光源内置） 设备尺寸 300(W)×550(D)×570(H)mm 使用环境 水平且无振动的场所
温度：23±5℃；湿度：60％以下、无结露， 操作系统 Windows XP, Windows Vista，Win7 软件 分光反射率、物体颜色、单层膜厚（有干涉条纹）和镀膜折射率（有干涉条纹）测定