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ContourGT-K三维光学显微镜完善了表面测量和分析的新标准，这套测量系统拥有工业超前的测量性能和灵活性，采用独有白光干涉技术，超大视野内埃级至毫米级的垂直计量范围，具有业界超高的垂直分辨率和测量重复性。
凭借其独特的直观用户界面和功能完善的自动化检测、分析功能，方便用户快速高效的获得材料粗糙度、二维/三维表面分析以及高分辨成像，广泛应用于LED、太阳能电池、薄膜材料、MEMS、精密机械零部件、摩擦磨损等各个领域，满足各种表面测量的实际需求。
ContourGT-K测试系统上，用户可自定义分析选项，多核处理器和Vision64®软件将数据处理、分析速度提高十倍，大大提高测试效率。
同时完善了软件和硬件功能，人性化的工作流程、超前的光学测试系统、高性价比的检测平台，使其成为桌上型三维光学显微镜的完美选择。除了标准配置的各种检测功能，客户还可以自定义测试方案，选择各类各级配件或特殊测试模块：
全自动X、Y、Z样品台
NanolensTM AFM模块
特殊应用测试软件
