半导体模块全参数测试设备
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半导体模块全参数测试设备
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EN-3020C系统是专为测试IGBT而设计。能够真实准确测试出IGBT与二极管的静态参数：其测试范围如下：
l 栅极-发射极漏电流测试单元 VGES、IGES
l 栅极-发射极阈值电压测试单元 Vge（th）
l 门极-发射极间电压测试单元 VCES、ICES
l 集电极-发射极饱和电压测试单元 Vge（sat）、IC
l 二极管压降测试单元 VF、IF
l 二极管反向击穿电压测试单元 VR、IR
l 结电容测试单元 Cies, Coes, Cres
此设备的控制系统主要由计算机控制，计算机控制系统是该测试设备的中心控制单元，设备的工作程序、工作时序、开关的动作状态，数据采集等均由计算机完成。
计算机采用联想一体机，具有速度快、内存大、方便携带等特点。
NI USB-6009是一块多功能的数据采集卡，具有三组数据端口，8/4个模拟量输入端口，两个模拟量输出口、13个数字输出口。
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关键字：IGBT测试仪
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