半导体器件静态参数测试仪
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半导体器件静态参数测试仪
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EN-3020C IGBT静态参数测试系统是一款针对IGBT和二极管的各种静态参数而研制的智能测试系统。
系统标准功率源为2000V/1500A。本系统适合各大研究院所做元器件检验，元件进厂检测筛选以及在线开发器件做生产测试。系统可扩展性强，通过选件可以提高电压、电流的测试能力和增加测试品种范围。自动快速测试可以满足用户大生产需要，故障率低也保证了用户的生产效率。在PC窗口提示下输入被测器件的测试参数即可完成填表编程，操作人员不需具备专业计算机编程语言知识，使用简捷方便。
l 针对 IGBT 的各种静态参数而研制的智能测试系统
l 大功率（电压2000V，电流1500A）
l 自动化程度高（按照操作人员设定的程序自动工作）
l 计算机记录测试结果，测试结果可转化为文本或 EXCEL 格式存储
l 采用品牌工控机，具有抗电磁干扰能力强，排风量大等特点
l 测试方法灵活（可完美测试器件以及单个单元和多单元的模块测试）
l 安全稳定（PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁）
l 具备在加热条件下的各静态参数测试功能。
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关键字：IGBT测试仪
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