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日本TOPCON拓普康SR-LEDW分光辐射计厂家
详细信息 |
日本TOPCON拓普康SR-LEDW分光辐射计厂家直销靠谱
日本拓普康SR系列分光辐射计型号有SR-LEDW、SR-LEDH、SR-UL2S、SR-UL2、SR-UL1R、SR-3AR,SR系列辐射计是利用分光原理进行测量,此类方式具有测量精度高的特点,因此主要用于FPD面板的光学特性评价、OLED、汽车操作面板、蓄光材、手机、LED、汽车(仪表盘各种灯类)、显示部件(大画面LED信号灯手机)、零件(液晶模组滤光片)及其他(照明灯、游戏机显示部等)。
SR-NIR与上述SR系列产品用途有所不同,其主要用途如下1汽车用近红外等的近红外分光计测2监视器用灯的近红外分光计测3遥控器的近红外输出特性4观察Ne,Ar的光谱线输出5光学膜等的近红外透过特性评价6近红外领域发光LED的输出观测7其他光源的近红外分光测量。
测定的可靠性
分光辐射计SR系列,采用分光器(衍射光栅+电子冷却型线性排列传感器)在380nm~780nm的可视域里,每1nm的分光放射亮度测定后,经由电脑内藏的等色函数计算出亮度,色度,其他及表色系的表示及输出。还可以把SR系列的测定结果当成校正基准,使用与其他计测其的任意校正。
注:不包含近红外分光辐射计SR-NIR。
拓普康SR-LEDW技术规格
光亮采集 |
电子冷却型线性阵列传感器 |
波长分散原理 |
衍射光栅 |
光学系统 |
对物镜 : f= 82mm F2.5, 目镜 : 观测视野 5° |
测定角 |
2°/1°/0.2°/0.1° *电动切换式 |
测定距离 |
350mm - ∞ (从物镜金属件前端开始的距离) |
光谱波宽 |
5 - 8nm 半波宽 |
波长精度 |
0.3nm Hg 波宽线上 |
测定波长范围 |
nm |
波长分解能力 |
1nm |
测定模式 |
自动/手动 (积分时间/频率) / 外部垂直同步信号输入 |
测定内容 |
分光辐射亮度 : Wsrmnm-1 |
演算内容 |
辐射亮度 Le : Wsrm-2, 亮度 Lv : cdm-2, |
亮度测定范围 |
2°cd/m2 1°cd/m2 0.2°cd/m2 0.1°00,000 cd/m2 |
亮度精度(*1) |
±2% 以下 |
色度精度 (*1) |
±0.002 |
重复精度: 亮度(*3) |
~0.005 cd/m² |
重复精度: 色度(*4) |
0.~0.005 cd/m² |
偏光特性 |
亮度 : 1% 以下, 分光辐射亮度 : 2% 以下nm) |
测定时间(*5) |
NORMAL 模式: 约1 - 248秒 HIGH SPEED 模式: 约1 - 17秒 |
界面 |
RS-232C, USB 2.0 |
电源 |
专用 AC 电源适配器 AC100V-240V, 50/60Hz |
功率 |
约 36W |
使用条件 |
温度℃, 湿度: 80%RH 以下 (且无凝露) |
外形尺寸 (W×D×H) |
150×406×239mm |
质量 |
约 5.5kg |
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关键字:TOPCON进口 日本拓普康 SR-LEDW分光辐