4系列通孔塞规式测量仪
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4系列通孔塞规式测量仪
详细信息 |
该量仪属于比对法测量，可快速高效测量孔内几何形状，自定中心，应用范围广，操作简单精度高，结构牢固长寿命，不会划伤工件
DIATEST塞规式测量系统特有的导向体设计，保证了测量结果的可能性，解决了孔径测量的对中难题，限度减少了人为因素测量结果的影响，可方便、快速、准确得出测量结果。
测头为非标定制，按图纸及使用要求加工制作！
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测头结构 |
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1、手柄 |
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2、显示装置 |
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3、测针 |
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4、导向体 |
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5、两瓣体 |
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6、测点 |
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测头参数 |
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测头形式：通孔 |
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测量范围：+0.1mm |
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重复精度：0.001mm |
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线性误差：1%测量行程 |
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测点半径：0.5mm |
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测头寿命：可达100万次 |
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关键字：通孔测量仪 电子塞规
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